工業(yè)計算機斷層掃描（CT）是任何計算機輔助斷層掃描的過程，通常是X射線計算機斷層掃描，它使用輻射來產(chǎn)生被掃描物體的三維內(nèi)部和外部表示。工業(yè)CT掃描已經(jīng)在工業(yè)的許多領域中用于部件的內(nèi)部檢查。工業(yè)CT掃描的***些關鍵用途是缺陷檢測、故障分析、計量、裝配分析和逆向工程應用。就像醫(yī)學成像***樣，工業(yè)成像包括非斷層攝影術（工業(yè)射線照相術）和計算機斷層攝影術（計算機斷層掃描）。

1972年，戈弗雷·豪恩菲爾德（Godfrey Hounsfield）發(fā)明了用于醫(yī)學成像的CT掃描機，從而引入了工業(yè)CT掃描技術。這項發(fā)明為他贏得了諾貝爾醫(yī)學獎，他與艾倫·麥克勞德·科馬克（Allan McLeod Cormack）分享該獎。除了主要用于醫(yī)療領域的視覺檢查（醫(yī)學CT掃描）之外，CT掃描的許多進展還使其在工業(yè)計量領域得到應用。

各種檢查用途和技術包括零件與CAD的比較、零件與零件的比較、裝配和缺陷分析、空隙分析、壁厚分析和CAD數(shù)據(jù)的生成。CAD數(shù)據(jù)可用于逆向工程、幾何尺寸和公差分析以及生產(chǎn)零件的批準。

3.1 裝配

使用CT公認的分析形式之***是用于裝配或視覺分析。CT掃描無需拆卸，便可提供了功能位置的部件內(nèi)部視圖。***些工業(yè)CT掃描軟件程序允許從CT數(shù)據(jù)集的體繪制中進行測量。這些測量對于確定組裝零件之間的間隙或單個特征的尺寸非常有用。

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