掃描電子顯微鏡用途：

　　三維形貌的觀察和分析；在觀察形貌的同時，進行微區的成分分析。

　　觀察納米材料。所謂納米材料就是指組成材料的顆粒或微晶尺寸在0.1～100 nm范圍內，在保持表面潔凈的條件下加壓成型而得到的固體材料。

　　進行材料斷口的分析。掃描電子顯微鏡的另***個重要特點是景深大，圖象富有立體感。掃描電子顯微鏡的焦深比透射電子顯微鏡大10倍，比光學顯微鏡大幾百倍。

　　觀察厚試樣。其在觀察厚試樣時，能得到高的分辨率和真實的形貌。掃描電子顯微的分辨率介于光學顯微鏡和透射電子顯微鏡之間。

　　進行從高倍到低倍的連續觀察。放大倍數的可變范圍很寬，且不用經常對焦。掃描電子顯微鏡的放大倍數范圍很寬(從5到20萬倍連續可調)，且***次聚焦好后即可從高倍到低倍，從低倍到高倍連續觀察，不用重新聚焦，這對進行事故分析方便。

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