光學膜厚測量儀
價 格：詢價
產 地：更新時間：2021-01-15 17:58
品 牌：型 號：ST2000/ST4000/ST5000/ST6000/ST7000
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上海自提或三方快遞
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1) 因為是利用光的方式，所以是非接觸式，非破壞式，不會影響實驗樣品。
2) 可獲得薄膜的厚度和 n,k 數據。
3) 測量迅速正確，且不必為測量而破壞或加工實驗樣品。
4) 可測量 3層以內的多層膜。
5) 根據用途可自由選擇手動型或自動型。
6) 產品款式多樣，而且也可以根據顧客的要求設計產品。
7)可測量 Wafer/LCD 上的膜厚度 (Stage size 3“ )
8)Table Top型, 適用于大學,研究室等
滬公網安備31011502016460號
