探針，AFM探針，原子力顯微鏡探針，Bruker探針
原子力AFM探針：
VEECO為您提供范圍*廣價格*優惠的AFM探針。這些探針的懸臂都具有不同的幾何尺寸和機械性能，能滿足各種不同的需求:
探針的工作模式：主要分為 掃描(接觸)模式和輕敲模式
探針的結構：懸臂梁+針尖
探針針尖曲率半徑Tip Radius：***般為10nm到幾十nm。
制作工藝：半導體工藝制作
常見的探針類型：
（1）、導電探針（電學）：金剛石鍍層針尖，性能比較穩定
（2）、壓痕探針：金剛石探針針尖（分為套裝和非套裝的）
（3）、氮化硅探針：接觸式 （分為普通的和銳化的）
（4）、磁性探針：應用于MFM，通過在普通tapping和contact模式的探針上鍍Co、Fe等鐵磁性層制備
（5）、電化學探針（STM）: 電學接觸式和電學輕敲式
（6）、FIB大長徑比探針：測半導體結構，專為測量深的溝槽（深孔）以及近似鉛垂的側面而設計生產的。
DNP-10
氮化硅探針
用于接觸式或輕敲模式或力的測量。
非套裝，適用于BioScope AFM 及 Dimension 系列SPM。
每個基片有4個懸臂，彈性系數為0.06 - 0.58 N/m，共振頻率為18-65 KHz
包裝數量：10根/盒
針尖參數
幾何：各向異性
針尖高度 (h): 2.5 - 8.0µm
正面角(FA): 15 ± 2.5°
背面角(BA): 25 ± 2.5°
側面角 (SA): 17.5 ± 2.5°
針尖曲率半徑(Nom): 20nm
針尖曲率半徑(Max): 60nm
針尖縮進 (TSB)(Nom): 4µm
針尖縮進范圍 (TSB)(RNG): 0 - 7µm
滬公網安備31011502016460號
