Thermo Scienti?c? Prisma? E SEM結(jié)合了全面的成像性能和獨(dú)特的環(huán)境模式（Thermo Scienti?c ESEM?），同時(shí)兼容廣泛的硬件和軟件選型，可滿(mǎn)足多用戶(hù)實(shí)驗(yàn)室的綜合應(yīng)用需求。

學(xué)術(shù)和工業(yè)研究實(shí)驗(yàn)室希望現(xiàn)代SEM能夠從*廣泛的樣品中獲得大量數(shù)據(jù)，并獲得出色的圖像質(zhì)量。由于大多數(shù)實(shí)驗(yàn)室都是多用戶(hù)設(shè)施，確保所有經(jīng)驗(yàn)***別的操作者都可以訪(fǎng)問(wèn)所有數(shù)據(jù)，易用性至關(guān)重要。Prisma E SEM 的三種真空模式（高真空、低真空和 ESEM?）使得系統(tǒng)極具靈活性，可以容納任何 SEM 可用的*廣泛的樣品類(lèi)型，包括放氣的、未鍍導(dǎo)電膜的或者是與真空狀態(tài)不相容的樣品。多種檢測(cè)器選項(xiàng)（定向背散射探測(cè)器、STEM、陰極熒光探測(cè)器等）提供了所有必要的樣品信息。探測(cè)器信號(hào)同步采集和顯示，可以在*短的時(shí)間內(nèi)提供答案。此外，ESEM可以提供真實(shí)環(huán)境條件對(duì)樣品進(jìn)行原位研究，例如在濕潤(rùn)、高溫、潮濕或反應(yīng)性環(huán)境中的樣品觀察。Prisma E SEM 還包括***系列軟件集成的原位實(shí)驗(yàn)臺(tái)，用于執(zhí)行和控制動(dòng)態(tài)實(shí)驗(yàn)。

Prisma E SEM 的分析樣品倉(cāng)可以滿(mǎn)足日益增長(zhǎng)的樣品元素信息及晶體結(jié)構(gòu)分析需求，它同時(shí)支持相對(duì)的雙能譜（EDS）探測(cè)器用于增強(qiáng)信號(hào)并去除陰影效應(yīng)；此外，支持共面的能譜（EDS）/電子背散射衍射（EBSD）和平行束波譜（WDS）探測(cè)器以確保各個(gè)探測(cè)器獲得*佳的采集位置。 得益于Prisma E SEM 強(qiáng)大的原位功能，對(duì)于絕緣樣品或者需要高溫條件的實(shí)驗(yàn)都能獲得更加可靠的分析結(jié)果。