Sphere3000是***套全波長顯微球面光學元件光譜分析儀，能快速準確地測量各類球面/非球面器件的相對/絕對反射率。適用于凸透鏡、凹透鏡、鏡片等的鍍膜反射率測量。還可進行有干涉條紋的單層膜厚或折射率測量。
Sphere3000球面光學元件反射率顯微檢測儀-特點：
顯微測定微小領域的反射率 物鏡對焦于被測物微小區域（φ60μm）
CIE顏色測定 X Y色度圖，x, y, L, a, b, 飽和度，主波長等
檢測速度快 高性能探測器，能在幾秒內實現重現性高的測定
消除背面反射光 無需進行背面防反射處理即可快速準確地測定表面反射率。
Sphere3000球面光學元件反射率顯微檢測儀-技術參數
| 型號 | Sphere-3000（I型） | Sphere-3000（II型） | Sphere-3000（III型） |
| 檢測范圍 | 380~800nm | 380~1000nm | 380~1100nm |
| 波長分辨率 | 1nm | 1nm | 1nm |
| 相對檢測誤差 | 1% | 1% | 0.5% |
| 測定方法 | 與標準物比較測定 |
| 被測物再現性 | ±0.1%以下
（2σ）（380nm~410nm）
±0.05%以下
（2σ）（410nm~800nm） | ±0.1%以下
（2σ）（380nm~410nm）
±0.05%以下
（2σ）（410nm~1000nm） | ±0.1%以下
（2σ）（380nm~410nm）
±0.05%以下
（2σ）（410nm~1100nm） |
| 單次測量時間 | 1s |
| 精度 | 0.3nm |
| 被測物N.A. | 0.12（使用10×對物鏡時）
0.24（使用20×對物鏡時） |
| 被測物尺寸 | 直徑>1mm
厚度>1mm（使用10×對物鏡時）
厚度>0.5mm（使用20×對物鏡時） |
| 被測物測定范圍 | 約φ60μm（使用10×對物鏡時） 約φ30μm（使用20×對物鏡時） |
| 設備重量 | 約15kg（光源內置） |
| 設備尺寸 | 300（W）×550（D）×570（H）mm |
| 使用環境 | 水平且無振動的場所
溫度：23±5℃；濕度：60％以下、無結露， |
| 操作系統 | Windows XP, Windows Vista，Win7 |
| 軟件 | 分光反射率、物體顏色、單層膜厚（有干涉條紋）和鍍膜折射率（有干涉條紋）測定 |
滬公網安備31011502016460號
